Форма участия: Очная

Срок подачи заявок: 15 апреля 2017

Индексирование сборника:

Уральский федеральный университет
Организаторы: Уральский федеральный университет

Контактное лицо:

email: spm-2017@labfer.ru

Телефон: (343) 261 74 36

2017-08-28 12:00:00 2017-08-30 12:00:00 Europe/Moscow Международная конференция «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017» (Scanning Probe Microscopy – 2017) URL события: https://xn--e1aajagscdbhlf4c6a.xn--p1ai/events/mezhdunarodnaya-konferentsiya-skaniruyushhaya-zondovaya-mikroskopiya-2017/ Екатеринбург, Россия Уральский федеральный университет spm-2017@labfer.ru

Цель конференции:

Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Будет проведен конкурс работ молодых ученых.
Конференция планируется быть первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России.

Тематики конференции:

1. СЗМ в материаловедении.  2. Новые методы СЗМ.
3. СЗМ в биологии и медицине.  4. Аналитические методы СЗМ.
5. Зондовая литография.  6. In situ возможности СЗМ.
7. Обработка данных СЗМ.
9. Ферроики.
  8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика.
10. Науки о жизни.

 

Официальные языки конференции:     русский и английский

Генеральный спонсор конференции:     холдинг NT-MDT Spectrum Instruments

Труды конференции: планируется публикация статей в международных журналах Ferroelectrics и IOP Conference Series: Materials Science and Engineering


Добавлено: 03.03.2017

Повысить рейтинг
Текущее значение: 0
Закрыть меню
×

Корзина